Fischer Xulm膜厚儀
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Fischer Xulm膜厚儀(1/3)
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Fischer Xulm膜厚儀(2/3)
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Fischer Xulm膜厚儀(3/3)
18051103912
儀器介紹
XULM是一款性能卓越，設(shè)計(jì)緊湊，應(yīng)用廣泛的X射線熒光鍍層及材料分析儀。常用于無損測量細(xì)小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質(zhì)量管控，來料檢驗(yàn)及生產(chǎn)過程控制中測量使用。
設(shè)計(jì)用途
能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，用于無損測量鍍層厚度及分析材料成分
應(yīng)用領(lǐng)域
在小部件，如螺絲釘，螺栓和螺帽上的測量
在連接器和電氣元件上的測量
電鍍液的溶液成分分析
高壓
三檔：30Kv,40Kv,50Kv
孔徑
由四孔準(zhǔn)直器組成：
0.1mm 0.2mm 0.3mm 0.05*0.05mm